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印度BIS認(rèn)證、韓國(guó)KC認(rèn)證、國(guó)際電工委員會(huì)CB認(rèn)證等
在電子設(shè)備的研發(fā)與生產(chǎn)過(guò)程中,傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試是確保設(shè)備符合電磁兼容性(EMC)標(biāo)準(zhǔn)的重要環(huán)節(jié)。隨著科技的進(jìn)步,各種新型設(shè)備層出不窮,傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試的常見(jiàn)問(wèn)題及解決方法也日益受到關(guān)注。本文將詳細(xì)探討這一領(lǐng)域的典型問(wèn)題及其有效…